論文発表

国内学会
  • 三澤奈央子, 田岡健太, 越能俊介, 松井千尋,竹内健, “組合せ最適化問題に向けたReRAMを用いたコンピュテーション・イン・メモリにおける量子化ビット数とエラー率の解への影響”, シリコン材料・デバイス研究会, 信学技報, vol. 121, no. 71, SDM2021-28, pp. 23-26, 2021年6月22日.

  • 松井千尋, 竹内健, “ReRAMセルの信頼性ばらつきを許容する機械学習向け高速Approximateストレージ,” 第32回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2020), 2020年12月1日.

  • 松井千尋, 竹内健, “画像の空間的局所性と色のパターンに基づく3D-TLC NAND型フラッシュメモリ向けデータ制御技術”, 応用物理学会秋季学術講演会, 11a-Z09-8, 2020年9月11日.

  • 相原裕樹, 前田京佑, 鈴木峻, 竹内健, “読み出しが多いアプリケーションにおける3次元NAND型フラッシュメモリに生じるエラーの評価”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-9, 2020年3月12日.

  • 日根優作, 覺田恭生, 木下怜佳, 竹内健, “Double Asymmetric-latency SCMs SSD向け書き込みと読み出しの頻度を考慮したデータ管理アルゴリズム”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-8, 2020年3月12日.

  • 森優大, 前田京佑, 竹内健, “3次元TLC NAND型フラッシュメモリにおけるしきい値電圧変調を加えたデータ圧縮方式”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-7, 2020年3月12日.

  • 相田息吹, 上村公紀, 水品圭汰, 竹内健, “AIアクセラレータに向けたニューラルネットワーク”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-6, 2020年3月12日.

  • 武石滉大, 上村公紀, 能美奨, 竹内健, “エッジコンピューティングに向けたニューロモルフィック回路”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-5, 2020年3月12日.

  • 金田凌賀, 木下怜佳, 松井千尋, 竹内健, “2種類のストレージ・クラス・メモリで構成したストレージシステムのデータ追い出し間隔自動調整アルゴリズム”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-4, 2020年3月12日.

  • 橋本峻吾, 高井良貴, 松井千尋, 竹内健, “様々な遅延を考慮したストレージの性能評価”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-3, 2020年3月12日.

  • 松井千尋, 竹内健, “アプリケーションに起因するReRAMの信頼性ばらつきを考慮した近似計算ストレージ”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-2, 2020年3月12日.

  • 宮部一帆, 木下寛士, 米内飛翔, 竹内健, “ReRAMの書き換え耐久性の分析”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-1, 2020年3月12日.

  • Reika Kinoshita, Chihiro Matsui, Atsuya Suzuki, Shouhei Fukuyama, Ken Takeuch, “Workload-aware Data-eviction Self-adjusting System of Multi-SCM Storage to Resolve Trade-off between SCM Data-retention Error and Storage System Performance”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 443, VLD2019-119, pp. 145-150, 2020年3月5日.

  • 上村公紀, 能美奨,竹内健, “強誘電体トランジスタを用いた並列積和演算可能なニューロモルフィック集積回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-31, pp. 13-17, 2019年11月14日.

  • 高井良貴, 福地守, 松井千尋, 木下怜佳,竹内健, “QLC NAND型フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDにおける最適な不揮発性メモリ構成の設計”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-41, pp. 59-63, 2019年11月15日.

  • 阿部真輝,竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた寿命予測と高信頼化技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-30, pp. 7-12, 2019年11月14日.

  • 水品圭汰, 中村俊貴, 竹内健, “機械学習を用いた画像認識アプリケーション向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化手法”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

  • 前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3D-NAND型フラッシュメモリに向けたデータの自動修復”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

  • 鶴見洸太、鈴木健太, 竹内健, “パルス幅変調低電力ニューロモルフィックLSI”, 集積回路研究会, 2019年4月22日.

  • 山口紳, 溝口恭史, 小島大輝, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和時間の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

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