武石滉大, 上村公紀, 能美奨, 竹内健, “エッジコンピューティングに向けたニューロモルフィック回路”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-5, 2020年3月12日.

金田凌賀, 木下怜佳, 松井千尋, 竹内健, “2種類のストレージ・クラス・メモリで構成したストレージシステムのデータ追い出し間隔自動調整アルゴリズム”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-4, 2020年3月12日.

橋本峻吾, 高井良貴, 松井千尋, 竹内健, “様々な遅延を考慮したストレージの性能評価”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-3, 2020年3月12日.

松井千尋, 竹内健, “アプリケーションに起因するReRAMの信頼性ばらつきを考慮した近似計算ストレージ”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-2, 2020年3月12日.

宮部一帆, 木下寛士, 米内飛翔, 竹内健, “ReRAMの書き換え耐久性の分析”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-1, 2020年3月12日.

Reika Kinoshita, Chihiro Matsui, Atsuya Suzuki, Shouhei Fukuyama, Ken Takeuch, “Workload-aware Data-eviction Self-adjusting System of Multi-SCM Storage to Resolve Trade-off between SCM Data-retention Error and Storage System Performance”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 443, VLD2019-119, pp. 145-150, 2020年3月5日.

上村公紀, 能美奨，竹内健, “強誘電体トランジスタを用いた並列積和演算可能なニューロモルフィック集積回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-31, pp. 13-17, 2019年11月14日.

高井良貴, 福地守, 松井千尋, 木下怜佳，竹内健, “QLC NAND型フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDにおける最適な不揮発性メモリ構成の設計”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-41, pp. 59-63, 2019年11月15日.

阿部真輝，竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた寿命予測と高信頼化技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-30, pp. 7-12, 2019年11月14日.

水品圭汰, 中村俊貴, 竹内健, “機械学習を用いた画像認識アプリケーション向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化手法”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3D-NAND型フラッシュメモリに向けたデータの自動修復”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

鶴見洸太、鈴木健太, 竹内健, “パルス幅変調低電力ニューロモルフィックLSI”, 集積回路研究会, 2019年4月22日.

山口紳, 溝口恭史, 小島大輝, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和時間の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

小島大輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリの高信頼化に向けたLDPC符号”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

米内飛翔,　早川敦奈, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリに書き込み手法の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラー評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

上村公紀, 能美奨, 鈴木健太, 竹内健, “FET型ニューロモルフィック集積回路”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

高井良貴, 福地守, 松井千尋, 竹内健, “大容量フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDの性能評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

阿部真輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた高信頼化手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

木下寛士, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリの書き換え耐久性におけるエラー低減手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.