論文発表

国内招待講演
  • 竹内健, “AIチップの基礎と最新動向”, シリコンテクノロジー・チュートリアル2023, 2023年10月28日.【招待講演】

  • 竹内健, “半導体長期保存メモリ”, 日本写真学会 画像保存セミナー, 2022年12月2日.【招待講演】

  • 竹内健, “AI向けComputation-in-Memory(CiM)”, 集積回路研究会, 2022年4月12日.【招待講演】

  • 竹内健, “AI時代のコンピューティング:ハード・ソフトのCo-design”, 日本学術振興会シリコン超集積化システム第165委員会 第104回研究会, 2022年3月2日.【招待講演】

  • 竹内健, “不揮発性メモリを用いたComputation-in-MemoryによるAIアクセラレータ”, 強的秩序とその操作に関わる研究会 夏の学校, 2021年9月14日.【招待講演】

  • 竹内健, “AI応用に向けた不揮発性メモリを用いたComputation-in-Memory”, 第85回半導体・集積回路技術シンポジウム, 2021年8月30日.【招待講演】

  • 松井千尋, トープラサートポン カシディット, 高木信一, 竹内健, “ソースフォロワ読み出しおよびチャージシェアリングにより積和演算を行う電圧センス型FeFET CiM”, シリコン材料・デバイス研究会, 信学技報, 2021年8月18日.【招待講演】

  • Chihiro Matsui, Kasidit Toprasertpong, Shinichi Takagi and Ken Takeuchi, “Energy-Efficient Reliable HZO FeFET Computation-in-Memory with Local Multiply & Global Accumulate Array for Source-Follower & Charge-Sharing Voltage Sensing,” 2021 Symposia on VLSI Technology and Circuit報告会, 2021年7月30日.【招待講演】

  • 竹内健, “強誘電体FETを用いた機械学習向け積和演算回路”, 応用物理学会秋季学術講演会, 9p-Z08-4, 2020年9月9日.【招待講演】

  • 竹内健, “AI時代:ソフトベンダが半導体を手掛ける時代の戦略”, 日本学術振興会シリコン超集積システム第165委員会 シリコン超集積システムの進化発展を支えるイノベーション論, 2020年6月25日.【招待講演】

  • 竹内健, “AI応用Approximateメモリ”, 応用物理学会 シリコンテクノロジー分科会, 2020年5月30日.【招待講演】

  • 竹内健, “FeFETを用いたニューロモルフィック・コンピューティング”, 応用物理学関係連合講演会 シンポジウム 不揮発性メモリ技術の最前線, 2020年3月.【招待講演】

  • Shun Suzuki, Kyoji Mizoguchi, Hikaru Watanabe, Toshiki Nakamura, Yoshiaki Deguchi, Keita Mizushina and Ken Takeuchi, “Privacy-Aware Data-Lifetime Control NAND Flash System for Right to be Forgotten with In-3D Vertical Cell Processing,” A-SSCC 2019 報告会, 2019年12月.【招待講演】

  • 竹内健, “Approximate不揮発性メモリ”, 第1回miniCANDARシンポジウム, 2019年6月4日.【招待講演】

  • 竹内健, “Approximate不揮発性メモリ”, 集積回路研究会, 2019年4月22日.【招待講演】

  • 竹内健, “半導体ストレージの技術動向”, IMPULSEコンソーシアム, 2019年2月28日.【招待講演】

  • 竹内健, “半導体ストレージの技術動向”, クレディスイスセミナー, 2019年2月29日.【招待講演】

  • Kota Tsurumi, Kenta Suzuki and Ken Takeuchi, “A 6.8TOPS/W Energy Efficiency, 1.5μW Power Consumption, Pulse Width Modulation Neuromorphic Circuits for Near-Data Computing with SSD,” A-SSCC 2018 報告会, 2018年12月.【招待講演】

  • 竹内健, “データの価値判断による不揮発性メモリの高信頼化”, 第5回電子デバイスフォーラム京都, 2018年11月1日.【招待講演】

  • 竹内健, “データの価値判断による不揮発性メモリの高信頼化”, Advanced Metallization (ADMETA) Satellite Workshop, 2018年11月2日.【招待講演】

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