論文発表

国内学会
  • 杉山佑輔, 山田知明, 松井千尋, 竹内健, “TSVを用いた3次元実装ハイブリッドSSDのアプリケーション依存性,” 第28回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2016), 2016年11月28日.

  • 鶴見洸太,田中誠大,石井智也, 竹内健, “IoTデバイス向けReRAM書き込み電圧生成回路の低電圧化およびコンパレータ回路のバイアス電流最適化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 334, ICD2016-50, pp. 69-74, 2016年11月30日.

  • 松井千尋, 山賀祐典, 杉山佑輔, 竹内健, “半導体ストレージシステムにおけるSCM, MLC/TLC NANDフラッシュメモリの最適な構成の設計”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 334, ICD2016-38, pp. 7-10, 2016年11月29日.

  • 松井千尋, 孫超, 竹内健, “LBA scramblerを用いたNANDフラッシュSSDの高速化”, LSIとシステムのワークショップ2016, ポスターセッション, 2016年5月.

  • Tomoko Ogura Iwasaki, Sheyang Ning, Hiroki Yamazawa, Chao Sun, Shuhei Tanakamaru, Ken Takeuchi, “ReRAM reliability characterization and improvement by machine learning”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 3, ICD2016-4, pp. 39-44, 2016年4月14日.

  • 田中誠大, 石井智也, 蜂谷尚悟, 寧渉洋, 竹内健, “IoT向け端末に組み込まれるコンパレータ回路のバイアス電流を最適化した0.6V動作ReRAM書き込み電圧生成回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 3, ICD2016-4, pp. 27-32, 2016年4月14日.

  • 松井千尋, 荒川飛鳥. 孫超, Tomoko Ogura Iwasaki, 竹内健, “ガベージコレクション最適化によるLBA scramblerを使用したしたSSDの高速化”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 3, ICD2016-13, pp. 65-69, 2016年4月15日.

  • 山田知明, 岡本峻, 孫超, 蜂谷尚悟. トモコ オグラ イワサキ, 蜂谷尚悟, 竹内健, “データアクセスパターンを考慮したSCM/NANDハイブリッドSSDシステムの設計”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 3, ICD2016-14, pp. 71-76, 2016年4月15日.

  • 高橋知紀, 山﨑泉樹, 田中丸周平, Tomoko Ogura Iwasaki, 蜂谷尚悟. 竹内健, “長期保存向け半導体データストレージの高信頼手法”, 集積回路研究会, 2016年4月15日.

  • 鶴見洸太, 田中誠大, 石井智也, 竹内健, “1.0 V で動作するReRAM 書き込み電圧生成回路の高速化”, 応用物理学関係連合講演会, 19p-P4-4, 2016年3月19日.

  • 高橋知紀, 山﨑泉樹, 竹内健, “アーカイブ/ コールドフラッシュ向け長期保存SSD の高信頼手法”, 応用物理学関係連合講演会, 19p-P4-3, 2016年3月19日.

  • 前田一輝, 田中丸周平, 山沢裕紀, 竹内健, “プライバシー保護に向けたソリッドステートストレージシステム”, 応用物理学関係連合講演会, 19p-P4-2, 2016年3月19日.

  • 瀧下博文, 竹内健, “SCM/NAND Flash Hybrid SSD の構成とエラー訂正強度を考慮したSSD の性能と信頼性とコストの関係解析”, 応用物理学関係連合講演会, 19p-P4-1, 2016年3月19日.

  • 高橋知紀, 山﨑泉樹, 竹内健, “長期保存向けNAND型フラッシュメモリのエラーパターンの解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-77, pp. 53, 2015年12月17日.

  • 中村芳王, Tomoko Ogura Iwasaki, 竹内健, “NAND型フラッシュメモリにおけるエラー傾向の解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-76, pp. 51, 2015年12月17日.

  • 出口慶明, 徳冨司, 小林惇朗, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおけるビットエラーの解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-75, pp. 49, 2015年12月17日.

  • 前田一輝, 山沢裕紀, 竹内健, “プライバシー保護の実現に向けたNAND型フラッシュメモリの信頼性評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-74, pp. 47, 2015年12月17日.

  • 猪瀬貴史, Tomoko Ogura Iwasaki, Sheyang Ning, 竹内健, “カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリデバイスの信頼性評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-73, pp. 45, 2015年12月17日.

  • 杉山佑輔, 山田知明, 竹内健, “様々なデータアクセスパターンにおけるハイブリッドSSDの性能評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-72, pp. 43, 2015年12月17日.

  • 山賀祐典, 徳富司, 小林惇朗, 竹内健, “誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-71, pp. 41, 2015年12月17日.

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