論文発表

木下怜佳, 松井千尋, 山賀祐典, 安達優, 竹内健, “SCM/NANDフラッシュハイブリッドSSDのワークロード特性に応じたSCMのエラー救済手法,” 第29回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2017）, 2017年12月6日.

中村俊貴, 出口慶明, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおけるLDPC符号に適したエラー分散技術の提案,” 第29回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2017）, 2017年12月6日.

出口慶明, 渡邉光, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化/データ圧縮向け多元ハフマン符号の提案,” 第29回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2017）, 2017年12月6日.

鈴木健太, 鶴見洸太，竹内健, “NAND型フラッシュメモリとReRAMで構成されるハイブリッドSSD向け低電力動作可能な昇圧回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 117, no. 276, ICD2017-41, pp.15-20, 2017年11月7日.

福山将平, 前田一輝, 竹内健, “TaOx ReRAMの書き換え耐久性におけるエラー回復現象を用いた高信頼手法の提案”, 応用物理学関係連合講演会, 8p-C18-7, 2017年9月8日.

松井千尋, 杉山佑輔, 竹内健, “ストレージクラスメモリおよびNANDフラッシュを用いたハイブリッドストレージのアプリケーション依存性”, DAシンポジウム, ポスターセッション, 2017年8月.

鶴見洸太, 鈴木健太, 竹内健, “0.6V動作ReRAM書き込み電圧生成回路における書き込みデータサイズに応じたバッファ電圧最適化手法”, LSIとシステムのワークショップ2017, ポスターセッション, 2017年5月.

中村俊貴, 小林惇朗, 竹内健, “リード・ホット・データとコールド・データのエラーを削減するデータセンタ向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼制御技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 117, no. 9, ICD2017-6, pp. 29-34, 2017年4月20日.

鶴見洸太, 田中誠大, 竹内健, “IoTローカルデバイス向けCMOSプロセスとNAND型フラッシュプロセスで構成される1.0 V動作NAND型フラッシュメモリ書き込み電圧生成回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 117, no. 9, ICD2017-5, pp. 23-28, 2017年4月20日.

鈴木健太, 鶴見洸太, 田中誠大, 竹内健, “ハイブリッドSSD向け0.6V動作抵抗変化型メモリの書き込み電圧生成回路の高速化”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-12, 2017年3月15日.

小林惇朗, 竹内健, “Read-Hot/Coldアプリケーション向けTLC NAND型フラッシュメモリで構成されるソリッド・ステート・ドライブの高信頼制御技術”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-5, 2017年3月15日.

前田一輝, 竹内健, “プライバシー保護に向けたSSDシステムにおけるデータ寿命ばらつき低減手法”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-9, 2017年3月15日.

山賀祐典，松井千尋, 竹内健, “アプリケーションに適応可能なエンタープライズSSD向けECCシステム”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-6, 2017年3月15日.

猪瀬貴史, Tomoko Ogura iwasaki, Sheyang Ning, Darlene Viviani, Monte Manning, X. M. Henry Huang, Thomas Rueckes, 竹内健, “カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリにおける書き換え電圧を変化させたときの耐久性評価”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-13, 2017年3月15日.

出口慶明, 小林 惇朗, 竹内健, “1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和技術”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-7, 2017年3月15日.

出口慶明, 竹内健, “1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける読み出しディスターブエラー向け誤り訂正符号”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-8, 2017年3月15日.

佐藤優一, 出口慶明, 小林惇朗, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラーの低減”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-76, pp. 75, 2016年12月15日.

中村俊貴, 出口慶明, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリのデータ保持特性を利用した高信頼化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-73, pp. 65, 2016年12月15日.

溝口恭史, 高橋知紀, 有留誠一, 竹内健, “長期保存向けNAND型フラッシュメモリのエラー傾向の解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-72, pp. 63, 2016年12月15日.

鈴木敦也, 杉山佑輔, 竹内健, “SCMを用いたハイブリッドSSDの性能評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-71, pp. 61, 2016年12月15日.