論文発表

小島大輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリの高信頼化に向けたLDPC符号”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

米内飛翔,　早川敦奈, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリに書き込み手法の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラー評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

上村公紀, 能美奨, 鈴木健太, 竹内健, “FET型ニューロモルフィック集積回路”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

高井良貴, 福地守, 松井千尋, 竹内健, “大容量フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDの性能評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

阿部真輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた高信頼化手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

木下寛士, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリの書き換え耐久性におけるエラー低減手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

覺田恭生, 鈴木敦也, 木下怜佳, 安達優, 松井千尋, 竹内健, “ストレージ・クラス・メモリにおけるTLMシミュレーションを用いた信頼性の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

安達優, 松井千尋, 竹内健, “非対称な書き込み・読み出しレイテンシを持つReRAMを用いた半導体ストレージシステム”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 11a-PB3-1, 2019年3月11日.

松田慎平, 竹内健, “格子ランダムウォークに基づくReRAM信頼性の数値モデル”, 応用物理学関係連合講演会, 9p-S221-9, 2019年3月9日.

渡邉光, 竹内健, “8元ハフマン符号を用いた3D TLC NAND型フラッシュメモリ向けデータ圧縮とLateral Charge Migrationの抑制,” 第30回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2018）, 2018年11月29日.

福地守, 榊佑季哉, 松井千尋, 竹内健, “4種のNAND型フラッシュメモリを用いた SCM/NAND型フラッシュハイブリッドSSDの性能評価,” 第30回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2018）, 2018年11月29日.

木下怜佳, 松井千尋, 安達優, 竹内健, “メモリタイプ・ストレージタイプのストレージ・クラス・メモリで構成されたマルチSSDの書き換え耐久性を考慮した性能評価,” 第30回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2018）, 2018年11月29日.

松井千尋，竹内健, “SCM/NANDフラッシュハイブリッドストレージにおけるアプリケーション特性に応じたSCM容量の自律最適化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.118, no. 337, ICD2018-55, pp. 29-30, 2018年12月7日.

中村俊貴, 竹内健, “チャージトラップ及び浮遊ゲート型３Ｄ－ＮＡＮＤ型フラッシュメモリにおける機械学習を用いた誤り訂正符号の訂正能力向上手法”, LSIとシステムのワークショップ2018, ポスターセッション, 2018年5月.

渡邉光, 竹内健, “多元ハフマン符号を用いた階層型ストレージのSSDキャッシュ向けデータ圧縮/高信頼化手法の提案”, LSIとシステムのワークショップ2018, ポスターセッション, 2018年5月.

溝口 恭史, 小滝 翔平, 竹内健, “3D-NAND型フラッシュメモリにおける積層方向への電荷移動抑制による高信頼化技術”, LSIとシステムのワークショップ2018, ポスターセッション, 2018年5月.

松井千尋，竹内健, “ヘテロジニアスストレージにおけるアプリケーションに応じた不揮発性メモリ構成の最適化”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 118, no. 10, ICD2018-2, pp. 7-10, 2018年4月19日.

鈴木峻, 出口慶明, 中村俊貴, 溝口恭史，竹内健, “3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおける水平エラー検出と垂直LDPC符号を用いた高信頼化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 118, no. 10, ICD2018-1, pp. 1-6, 2018年4月19日.

久保山雄太, 猪瀬貴史, 福山将平, 前田一輝, 竹内健, “抵抗変化型メモリの高信頼化に向けたメモリセルの解析”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2018年3月.