論文発表

竹内健, “不揮発性メモリを使いこなす”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2011年10月.【招待講演】

竹内健, “ストレージ・クラス・メモリ（SCM）を搭載したSSDの仮想プラットフォーム”, シノプシス・ユーザーズ・ミーティング2011, 2011年9月7日. （招待講演）

竹内健, “3次元NANDフラッシュメモリ&SCM”, Electronic Journal 第771回 Technical Seminar, 2010年8月2日. （招待講演）

畑中輝義, 竹内健, “3次元SSD向けワイドレンジ対応ブーストコンバーター回路”, IEEE Solid-State Circuits Society (SSCS) Japan Chapter, Symposium on VLSI Circuits 報告会, 2011年7月.28日【招待講演】

竹内健, “フラッシュメモリと抵抗変化型メモリの技術動向”, 新化学技術推進協会　(JACI) 電子情報技術部会講演会, 2011年7月21日. （招待講演）

上口光, 田中丸周平, 洪慶麟, 竹内健, “95%-lower-BER 43%-lower-power intelligent Solid-State Drive (SSD) with Asymmetric Coding and Stripe Pattern Elimination Algorithm”, ISSCC2011 報告会, 2011年5月23日. （招待講演）

宮地幸祐, 竹内健, “HyENEXSSを用いたバルクとFDSOI基板における極微細浮遊ゲート型NANDフラッシュメモリのスケーリング検討”, TCAD研究会, 2011年5月.

上口光, 畑中輝義, 竹内健, “3次元積層SSDのためのプログラム電圧発生回路とTSVの検討”, LSIとシステムのワークショップ2011, ポスターセッション, 2011年5月.

田中丸周平, 洪慶麟, 竹内健, “非対称符号・ストライプパターン除去符号による高信頼・低消費電力ソリッド・ステート・ドライブ(SSD)”, LSIとシステムのワークショップ2011, ポスターセッション, 2011年5月.

竹内健, “不揮発性メモリを使いこなす～SSDからストレージ・クラス・メモリまで～”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2011年4月25日. （招待講演）

宮地幸祐, 本田健太郎, 田中丸周平, 宮野信治, 竹内健, “局所電子注入による非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクトディスターブの抑制”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-16, pp. 87-92, 2011年4月19日.

畑中輝義, 上口光, 石田光一, 安福正, 高宮真, 桜井貴康, 竹内健, “高速・低消費電力3次元積層ソリッド・ステート・ドライブ向け書き込み電圧(20V)発生回路とTSVの検討”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-13, pp. 71-76, 2011年4月19日.

竹内健, 田中丸周平, 洪慶麟, “高信頼・低電力SSD　～ メモリコントローラによるデータ変調信号処理技術による高信頼化と低電力化 ～”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-5, pp. 27-32, 2011年4月18日.（招待講演）

竹内健, “SSDの信頼性と高信頼性化技術”, 電子情報通信学会 超長期保管メモリ時限研究専門委員会, 2011年3月30日.（招待講演）

竹内健, “集積化MEMSとVLSI”, 応用物理学会, 2011年3月25日.（招待講演）

上口光, 畑中輝義, 石田光一, 安福正, 高宮真, 桜井貴康, 竹内健, “20 V 昇圧回路を用いた3 次元積層SSD のためのTSV の検討”, 応用物理学会, 27p-KC-5, 2011年3月27日

宮地幸祐, 本田健太郎, 田中丸周平, 宮野信治, 竹内健, “局所電子注入非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクトディスターブの抑制”, 応用物理学会, 26a-KC-8, 2011年3月26日

宮地幸祐, 野田晋司, 畑中輝義, 高橋光恵, 酒井滋樹, 竹内健, “単一セル自己昇圧法による1.0V動作，書き込み速度9.3GB/sec強誘電体NANDフラッシュSSD”, 応用物理学会, 26a-KC-6, 2011年3月26日.

田中丸周平, 洪慶麟, 竹内健, “高信頼、低消費電力SSDのための符号化手法”, 応用物理学会, 26a-KC-5, 2011年3月26日.

洪慶麟, 田中丸周平, 竹内健, “NANDフラッシュメモリの信頼性測定”, 応用物理学会, 26a-KC-4, 2011年3月26日.