論文発表

国内学会
  • 田中丸周平, 土井雅史, 竹内健, “統合ソリッドステートストレージアーキテクチャ”, 応用物理学関係連合講演会, 28a-G9-2, 2013年3月.

  • 宮地幸祐, 宮野信治, 竹内健, “不良セルへの電荷同時注入による修復技術を用いた低消費電力6T-SRAM”, 応用物理学関係連合講演会, 28a-G9-6, 2013年3月.

  • 宮地幸祐, 柳原裕貴, 竹内健, “BiCS型三次元積層NANDフラッシュメモリにおけるゲート長、ゲート間隔及び積層数の設計方針”, 応用物理学関係連合講演会, 28a-G9-1, 2013年3月.

  • 蜂谷尚悟, 宮地幸祐, 上口光, 竹内健, “3次元実装ReRAM/MLC NANDハイブリッドSSDにおける、データマネジメント手法の提案と性能評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 425, ICD2012-125, pp. 39- 43, 2013年1月.

  • 宮地幸祐, “回路系トップレベル学会を目指した体験 ~ 異分野出身を活かす ~”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 139-143, 2012年12月. 【招待講演】

  • 平澤黎生, 宮地幸祐, 竹内健, “BiCS型立体構造NANDフラッシュメモリーにおけるゲート長、ゲート間隔及び積層数の設計指針”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 57, 2012年12月.

  • 岡本峻, 宮地幸祐, 上口光, 蜂谷尚悟, 竹内健, “データ断片化防止アルゴリズムを用いたハイブリッドReRAM/MLC NAND SSD向け評価プラットフォームの構築”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 55, 2012年12月.

  • 鳥海航, 宮地幸祐, 上口光, 蜂谷尚悟, 竹内健, “トランザクションモデルベース評価プラットフォームを用いた、3次元ReRAM/MLC NANDハイブリッドSSDの性能評価と実データパターンの解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 59, 2012年12月.

  • 土井雅史, 田中丸周平, 竹内健, “高信頼性SSD向け非対称符号の効果の20~40nm世代の比較および符号長依存性の解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 33, 2012年12月.

  • 小林大介, 宮地幸祐, 宮野信治, 竹内健, “局所電子注入非対称パスゲートトランジスタを有する6T-SRAMのためのしきい値電圧付近ワード線電圧注入法によるしきい値電圧ばらつきの自己収束”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 31, 2012年12月.

  • 江上徹, 上口光, 竹内健, “相変化メモリの環境温度依存性評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 65, 2012年12月.

  • Sheyang Ning, Tomoko Iwasaki, Ken Takeuchi, “3x Write and 5x Read Speed Increase for RRAM with Disturb Free Bipolar Operation”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 43, 2012年12月.

  • 中島祥斗, 畑中輝義, 竹内健, “ReRAM/NANDフラッシュメモリーハイブリッド3次元積層ソリッド・ステート・ドライブ向け、単一インダクタ書き込み電圧(VSET/RESET、VPGM)同時生成回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93 , pp. 29, 2012年12月.

  • 畑中輝義, 上口光, 竹内健, “3次元積層SSD向け20V昇圧回路のEMI測定と出力性能の解析”, LSIとシステムのワークショップ2012, ポスターセッション, 2012年5月.

  • 宮地幸祐, 竹内健, “HyENEXSSを用いたバルクとSOI NANDフラッシュメモリセルにおける短チャネル効果と書き込み禁止時チャネル昇圧特性の評価”, TCAD研究会, 2012年5月.

  • 竹内健, “国内半導体業界の行方を探る~エルピーダの教訓を生かせるか~”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2012年5月.【招待講演】

  • 竹内健, “不揮発性メモリを使いこなす”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2012年5月.【招待講演】

  • 宮地幸祐, 鈴木利一, 宮野信治, 竹内健, “高速、低消費電力6T-SRAMを実現する電荷の同時注入による不良セルの修復技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.112, no.15, ICD2012-12, pp.61-66, 2012年4月.

  • 畑中輝義, 竹内健, “3次元積層ソリッド・ステート・ドライブ向け4倍高速、15%低消費電力Vpass(10V)、Vpgm(20V)生成電源システム”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.112, no.15, ICD2012-8, pp.37-42, 2012年4月.

  • 田中丸周平, 柳原裕貴, 竹内健, “エラー予測LDPCとエラー回復機構により10倍の長寿命、エラーを76%削減したSSD”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.112, no.15, ICD2012-5, pp.23-28, 2012年4月.

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