Domestic Conference
  • Reika Kinoshita, Chihiro Matsui, Atsuya Suzuki, Shouhei Fukuyama, Ken Takeuch, “Workload-aware Data-eviction Self-adjusting System of Multi-SCM Storage to Resolve Trade-off between SCM Data-retention Error and Storage System Performance”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 443, VLD2019-119, pp. 145-150, 2020年3月5日.

  • 上村公紀, 能美奨,竹内健, “強誘電体トランジスタを用いた並列積和演算可能なニューロモルフィック集積回路”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-31, pp. 13-17, 2019年11月14日.

  • 高井良貴, 福地守, 松井千尋, 木下怜佳,竹内健, “QLC NAND型フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDにおける最適な不揮発性メモリ構成の設計”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-41, pp. 59-63, 2019年11月15日.

  • 阿部真輝,竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた寿命予測と高信頼化技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-30, pp. 7-12, 2019年11月14日.

  • 水品圭汰, 中村俊貴, 竹内健, “機械学習を用いた画像認識アプリケーション向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化手法”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

  • 前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3D-NAND型フラッシュメモリに向けたデータの自動修復”, LSIとシステムのワークショップ2019, ポスターセッション, 2019年5月.

  • 鶴見洸太、鈴木健太, 竹内健, “パルス幅変調低電力ニューロモルフィックLSI”, 集積回路研究会, 2019年4月22日.

  • 山口紳, 溝口恭史, 小島大輝, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和時間の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 小島大輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリの高信頼化に向けたLDPC符号”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 米内飛翔, 早川敦奈, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリに書き込み手法の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 前田京佑, 溝口恭史, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラー評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 上村公紀, 能美奨, 鈴木健太, 竹内健, “FET型ニューロモルフィック集積回路”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 高井良貴, 福地守, 松井千尋, 竹内健, “大容量フラッシュメモリを用いたハイブリッドSSDの性能評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 阿部真輝, 中村俊貴, 竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた高信頼化手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 木下寛士, 福山将平, 竹内健, “抵抗変化型メモリの書き換え耐久性におけるエラー低減手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 覺田恭生, 鈴木敦也, 木下怜佳, 安達優, 松井千尋, 竹内健, “ストレージ・クラス・メモリにおけるTLMシミュレーションを用いた信頼性の評価”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2019年3月20日.

  • 安達優, 松井千尋, 竹内健, “非対称な書き込み・読み出しレイテンシを持つReRAMを用いた半導体ストレージシステム”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 11a-PB3-1, 2019年3月11日.

  • 松田慎平, 竹内健, “格子ランダムウォークに基づくReRAM信頼性の数値モデル”, 応用物理学関係連合講演会, 9p-S221-9, 2019年3月9日.

  • 渡邉光, 竹内健, “8元ハフマン符号を用いた3D TLC NAND型フラッシュメモリ向けデータ圧縮とLateral Charge Migrationの抑制,” 第30回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2018), 2018年11月29日.

  • 福地守, 榊佑季哉, 松井千尋, 竹内健, “4種のNAND型フラッシュメモリを用いた SCM/NAND型フラッシュハイブリッドSSDの性能評価,” 第30回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2018), 2018年11月29日.

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