Domestic Conference
  • 上口光, 畑中輝義, 竹内健, “3次元積層SSDのためのプログラム電圧発生回路とTSVの検討”, LSIとシステムのワークショップ2011, ポスターセッション, 2011年5月.

  • 田中丸周平, 洪慶麟, 竹内健, “非対称符号・ストライプパターン除去符号による高信頼・低消費電力ソリッド・ステート・ドライブ(SSD)”, LSIとシステムのワークショップ2011, ポスターセッション, 2011年5月.

  • 竹内健, “不揮発性メモリを使いこなす~SSDからストレージ・クラス・メモリまで~”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2011年4月25日. (招待講演)

  • 宮地幸祐, 本田健太郎, 田中丸周平, 宮野信治, 竹内健, “局所電子注入による非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクトディスターブの抑制”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-16, pp. 87-92, 2011年4月19日.

  • 畑中輝義, 上口光, 石田光一, 安福正, 高宮真, 桜井貴康, 竹内健, “高速・低消費電力3次元積層ソリッド・ステート・ドライブ向け書き込み電圧(20V)発生回路とTSVの検討”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-13, pp. 71-76, 2011年4月19日.

  • 竹内健, 田中丸周平, 洪慶麟, “高信頼・低電力SSD ~ メモリコントローラによるデータ変調信号処理技術による高信頼化と低電力化 ~”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 111, no. 6, ICD2011-5, pp. 27-32, 2011年4月18日.(招待講演)

  • 竹内健, “SSDの信頼性と高信頼性化技術”, 電子情報通信学会 超長期保管メモリ時限研究専門委員会, 2011年3月30日.(招待講演)

  • 竹内健, “集積化MEMSとVLSI”, 応用物理学会, 2011年3月25日.(招待講演)

  • 上口光, 畑中輝義, 石田光一, 安福正, 高宮真, 桜井貴康, 竹内健, “20 V 昇圧回路を用いた3 次元積層SSD のためのTSV の検討”, 応用物理学会, 27p-KC-5, 2011年3月27日

  • 宮地幸祐, 本田健太郎, 田中丸周平, 宮野信治, 竹内健, “局所電子注入非対称パスゲートトランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクトディスターブの抑制”, 応用物理学会, 26a-KC-8, 2011年3月26日

  • 宮地幸祐, 野田晋司, 畑中輝義, 高橋光恵, 酒井滋樹, 竹内健, “単一セル自己昇圧法による1.0V動作,書き込み速度9.3GB/sec強誘電体NANDフラッシュSSD”, 応用物理学会, 26a-KC-6, 2011年3月26日.

  • 田中丸周平, 洪慶麟, 竹内健, “高信頼、低消費電力SSDのための符号化手法”, 応用物理学会, 26a-KC-5, 2011年3月26日.

  • 洪慶麟, 田中丸周平, 竹内健, “NANDフラッシュメモリの信頼性測定”, 応用物理学会, 26a-KC-4, 2011年3月26日.

  • 竹内健, “不揮発性メモリを使いこなす~SSDからストレージ・クラス・メモリまで~”, 日経エレクトロニクス セミナー, 2011年3月. (招待講演)

  • 福田真由美, 樋口和英, 田中丸周平, 竹内健, “コードワード可変ECCを用いた不揮発RAMとNAND型フラッシュメモリ統合ソリッドステートドライブ ~3.6倍ビットエラーレート許容、かつ97%消費電力削減可能なソリッドステートドライブの提案~”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 110, no. 380, ICD2010-139, pp. 75-80, 2011年1月21日.

  • 竹内健, “3次元積層ソリッド・ステート・ドライブ(SSD)”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 110, no. 380, ICD2010-132, pp. 31-36, 2011年1月20日.(招待講演)

  • 竹内健, “強誘電体FETを用いた低電力NANDフラッシュメモリ・SRAM技術”, 「ゲートスタック研究会 材料・プロセス・評価の物理」(第16回研究会), 2011年1月22日. (招待講演)

  • 本田健太郎, 宮地幸祐, 田中丸周平, 宮野信治, 竹内健, “電子の局所注入による非対称パスゲートアクセストランジスタを用いた8T-SRAMにおけるハーフセレクト問題の除去”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-95, pp. 1-6, 2010年12月16日.

  • 田中丸周平, 江角淳, 伊東充吉, 李凱, 竹内健, “SSD向けエラー訂正手法の比較と符号長の動的最適化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-124, pp. 147-152, 2010年12月17日.

  • 畑中輝義, 矢島亮児, 野田晋司, 高橋光恵, 酒井滋樹, 竹内健, “エンタープライズSSD向け低消費電力・高信頼性強誘電体NANDフラッシュメモリー”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-118, pp. 113-118, 2010年12月17日.

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