DomesticConference_293

三澤奈央子, 松井千尋, 竹内健, “シミュレーティッド・アニーリングに向けたコンピュテーション・イン・メモリのReRAMデバイスのエラー評価”, 応用物理学関係連合講演会, 13a-S101-1, 2021年9月13日.

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