DomesticConference_289

松井千尋,竹内健, “アプリケーション特性に起因するTaOx ReRAMセルの信頼性ばらつきを許容する高速ストレージ”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 121, no. 71, SDM2021-27, pp. 21-22, 2021年6月22日.

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