DomesticConference_284

相原裕樹, 前田京佑, 鈴木峻, 竹内健, “読み出しが多いアプリケーションにおける3次元NAND型フラッシュメモリに生じるエラーの評価”, 応用物理学関係連合講演会, Poster, 12a-PB4-9, 2020年3月12日.

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