DomesticConference_272

阿部真輝,竹内健, “3次元NAND型フラッシュメモリにおけるニューラルネットワークを用いた寿命予測と高信頼化技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 119, no. 284, ICD2019-30, pp. 7-12, 2019年11月14日.

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