DomesticConference_248

久保山雄太, 猪瀬貴史, 福山将平, 前田一輝, 竹内健, “抵抗変化型メモリの高信頼化に向けたメモリセルの解析”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2018年3月.