DomesticConference_247

鈴木峻, 出口慶明, 中村俊貴, 溝口恭史, 竹内健, “3D-TLC NAND型フラッシュメモリにおけるページ間ばらつきを考慮したLDPC符号とエラー検出技術を用いた高信頼化手法”, 電子情報通信学会総合大会 学生ポスターセッション, 2018年3月.

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