DomesticConference_232

溝口恭史, 高橋知紀, 竹内健, “1Xnm世代のNAND型フラッシュメモリにおけるRTNによるデータ保持不良/回復現象への影響”, 応用物理学関係連合講演会, 17p-P8-21, 2018年3月17日.

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