DomesticConference_229

出口慶明, 渡邉光, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化とデータ圧縮を同時に実現するメモリコントローラ技術”, 応用物理学関係連合講演会, 18p-G203-17, 2018年3月18日.

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