DomesticConference_225

出口慶明, 渡邉光, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリの高信頼化/データ圧縮向け多元ハフマン符号の提案,” 第29回コンピュータシステム・シンポジウム (ComSys2017), 2017年12月6日.

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