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中村俊貴, 小林惇朗, 竹内健, “リード・ホット・データとコールド・データのエラーを削減するデータセンタ向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼制御技術”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 117, no. 9, ICD2017-6, pp. 29-34, 2017年4月20日.

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