DomesticConference_214

猪瀬貴史, Tomoko Ogura iwasaki, Sheyang Ning, Darlene Viviani, Monte Manning, X. M. Henry Huang, Thomas Rueckes, 竹内健, “カーボンナノチューブを用いた不揮発性メモリにおける書き換え電圧を変化させたときの耐久性評価”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-13, 2017年3月15日.

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