DomesticConference_213

出口慶明, 小林 惇朗, 竹内健, “1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける書き換えストレス緩和技術”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-7, 2017年3月15日.

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