DomesticConference_212

出口慶明, 竹内健, “1Xnm TLC NAND型フラッシュメモリにおける読み出しディスターブエラー向け誤り訂正符号”, 応用物理学関係連合講演会, 15p-P15-8, 2017年3月15日.

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