DomesticConference_211

佐藤優一, 出口慶明, 小林惇朗, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラーの低減”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-76, pp. 75, 2016年12月15日.

filed under: