DomesticConference_210

中村俊貴, 出口慶明, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリのデータ保持特性を利用した高信頼化手法”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 116, no. 364, ICD2016-73, pp. 65, 2016年12月15日.