DomesticConference_185

出口慶明, 徳冨司, 小林惇朗, 竹内健, “TLC NAND型フラッシュメモリにおけるビットエラーの解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 115, no. 373, ICD2015-75, pp. 49, 2015年12月17日.