DomesticConference_163

小林惇朗, 蜂谷尚悟, 土井雅史, 徳冨司, 竹内健, “NAND型フラッシュメモリの信頼性評価”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 114, no. 345, ICD2014-92, pp. 63, 2014年12月1日.

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