DomesticConference_122

山根佳彦, 蜂谷尚悟, 田中丸周平, 竹内健, “20nm世代TLC(3bit/cell) NANDフラッシュメモリの信頼性評価”, 応用物理学関係連合講演会, 28a-G9-4, 2013年3月.

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