DomesticConference_112

土井雅史, 田中丸周平, 竹内健, “高信頼性SSD向け非対称符号の効果の20~40nm世代の比較および符号長依存性の解析”, 集積回路研究会, 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-93, pp. 33, 2012年12月.

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