DomesticConference_090

樋口和英, 竹内健, “50nm級抵抗変化型メモリにおける耐久性向上書き換え手法の研究”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.111, no.352, ICD2011-116, pp.75-,80 2011年12月.

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