DomesticConference_088

(宮地幸祐, 洪慶麟, 竹内健, “BulkとSOI NANDフラッシュメモリセルにおける短チャネル効果とチャネル昇圧リークの微細化限界の検討”, 集積回路研究会, 信学技報, vol.111, no.281, SDM2011-125, pp.57-61, 2011年11月.

filed under: